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奧林巴斯半導(dǎo)體顯微鏡的基本原理在于利用高精度的光學(xué)或電子束技術(shù)來觀察和分析半導(dǎo)體材料的微觀結(jié)構(gòu)和特性。光學(xué)顯微鏡通過光源與物鏡放大成像,而電子顯微鏡則使用電子束掃描樣品并檢測信號成像,兩者各有優(yōu)勢,結(jié)合了這兩者的優(yōu)點,以實現(xiàn)更深入的觀察和分析。奧林巴斯半導(dǎo)體顯微鏡的主要類型:光學(xué)顯微鏡:使用可見光作為光源,通過聚光系統(tǒng)將光線聚焦在樣品上,再通過物鏡將樣品上的細節(jié)影像放大并投射到目鏡或檢測器上。光學(xué)顯微鏡主要用于觀察樣品的宏觀特征。掃描電子顯微鏡(SEM):使用聚焦電子束掃描樣...